赛默飞Helios 5 PFIB
赛默飞 Helios 5 PFIB Uxe 双束电镜可提供优异的大体积 3D 表征、无镓样品样品的制备和精密微加工能力。Helios 5 PFIB UXe 是行业领先的 Helios DualBeam™ 系列第五代产品的一部分。拥有EDS和EBSD,可以分析微观结构和晶体学信息。直观的软件和高自动化水平可以让科学家和工程师观察分析样品的相关信息,并且可以进行高质量的3D表征。用可选AutoTEM 5软件对样品可以进行最快、最简单和多地点原位和非原位大面积快速切片样品制备。获得准确的样品截面的同时,可以对其内部微观进行分析与表征。
设备型号:Helios 5 PFIB UXe DualBeam