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赛默飞球差Spectra 300
Spectra 300TEM 扫描透射电子显微镜是一款高通量、原子尺度的扫描透射电子显微镜。该设备不仅可以提供高质量的原子表征,拥有先进的STEM电子光学性能,和超灵敏检测,还可实现高质量的2D和3D成像和分析。先进的软件性能可以确保高分辩率的原子成像。稳定的光谱基座,具有被动和主动隔振,最大
设备型号:Spectra 300 TEM
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赛默飞Helios 5 PFIB
赛默飞 Helios 5 PFIB Uxe 双束电镜可提供优异的大体积 3D 表征、无镓样品样品的制备和精密微加工能力。Helios 5 PFIB UXe 是行业领先的 Helios DualBeam™ 系列第五代产品的一部分。拥有EDS和EBSD,可以分析微观结构和晶体学信息。直观的软件和高自动化水平可以让科学家和工程师观察分析样品的相关信息,并且可以进行高质量的3D表征。用可选AutoTEM 5软件对样品可以进行最快、最简单和多地点原位和非原位大面积快速切片样品制备。获得准确的样品截面的同时,可以对其内部微观进行分析与表征。
设备型号:Helios 5 PFIB UXe DualBeam
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赛默飞Apreo 2C
赛默飞扫描电镜Apreo 2C SEM包含Bruker布鲁克同轴TKD/EDS/EBSD 系统、Bruker布鲁克斜插式能谱仪。使用更高能量的元素谱线,可以对材料的全部元素进行更准确的定性定量分析,并且可进行高分辨率成像。凭借独特的实时元素成像功能,观察最直观的材料界面并实时获取元素组分信息。最新的ColorSEM技术消除了与典型EDS联用的所有复杂操作,操作更加便捷。更大的工作距离使得成像效果突出,使Apreo 2C SEM更获得出色的图像和分析结果。
设备型号:Apreo 2C
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纳米力台
牛津Femtotools-FT-NMT04纳米力学测试系统是一种多功能的SEM/FIB原位纳米压痕仪,能够精确地量化材料和微观结构在微米和纳米尺度的力学性能。背景噪音低且测量0-20mN以及0-200mN的量程可满足不同的测试需求。
设备型号:Femtotools-FT-NMT04
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4D-STEM
4D-STEM涵盖虚拟成像、应变分析、晶体取向分析等多元功能;DECTRIS Arina 可伸缩电子计数探测器专为其定制,全新专有 ASIC 设计,以 12 万帧 / 秒高速、高动态范围、无噪音读出优势,实现传统 STEM 原生速度的高质量数据采集!
设备型号:
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泽攸原位力学杆
聚焦金属样品拉伸过程,实时捕捉微观结构动态演化!清晰观测晶粒变形、位错生成移动及相变等关键变化,为材料力学性能与变形机制研究提供直接依据!
设备型号:
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原位高温拉伸台
设备型号:
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DENS原位气相加电加热
原位气相加热方案能够对气固反应中的样品动力学进行原子分辨率的实时表征,广泛适配催化、材料合成生长及腐蚀失效研究!精准调控 O2、H2等 3 种气体(含独立水蒸气添加)混合环境,同步施加精确加热与电学激励,原子 / 纳米尺度实时观测
设备型号:
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